首页> 中文会议>2005全国先进制造装备与机器人技术高峰论坛 >Stewart机构奇异轨迹性质识别的Z截面法

Stewart机构奇异轨迹性质识别的Z截面法

摘要

本文对Stewart并联机构的位置奇异轨迹的性质进行了识别.基于Stewart并联机构位置奇异轨迹的解析表达式,推导出了该并联机构在Z截面上的位置奇异轨迹方程并对其在相互平行的Z截面上的位置奇异轨迹的性质进行了识别.研究结果表明:Stewart并联机构在相互平行的Z截面上的位置奇异轨迹总是一个二次多项式其包括四对相交直线、一条抛物线及双曲线束.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号