首页> 中文会议>第九届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会 >Intel 80386EX单粒子效应激光模拟实验研究

Intel 80386EX单粒子效应激光模拟实验研究

摘要

本文利用实验室从俄罗斯引进的激光模拟单粒子效应试验系统,初步进行了大规模集成电路Intel386EX单片机单粒子效应的地面模拟试验研究,验证了Intel386EX单片机在激光辐照下存在单粒子效应。本文中详细地介绍Intel386EX芯片单粒子效应激光模拟的实验方法,实验系统的软硬件组成,实验过程和实验结果及实验结果的分析,并给出了地面模拟Intel386EX CPU的单粒子翻转阈值。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号