SOC的可测性设计与测试技术的发展与展望

摘要

随着集成电路工艺技术和设计方法的提高,集成电路的规模越来越大,使得原来要由多个芯片才可以实现的复杂系统被集成在单个芯片上成为可能，文中介绍了SOC的概念与测试难题，SOC的测试结构，SOC测试优化中的关键技术。