机译:非接触式无损检测系统、信号处理装置、非接触式无损检测方法
公开/公告号US11879815B2;US2024011879815B2;US11879815B2;US11879815
专利类型
公开/公告日2024-01-23
原文格式PDF
申请/专利权人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA;
申请/专利号US17651602;US202200017651602;US202217651602A;US202217651602
发明设计人
申请日2022-02-18
分类号G01M5;
国家
入库时间 2024-06-15 00:09:32