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Deposition of electrolyte and copper barrier in Damascus process

机译:大马士革过程中电解质和铜屏蔽的沉积

摘要

Deposition of electrolyte and copper barrier in Damascus processThe invention relates to an electrolyte and its application in copper interconnection manufacturing process. Electrolytes with pH greater than 6.0 include copper ions, manganese ions or zinc ions, and ethylenediamine complexed with copper.After annealing, the coated copper alloy forms a thin barrier layer, which makes manganese or zinc migrate on the interface between insulating dielectric material and copper.
机译:大马士革过程中电解质和铜屏障的沉积本发明涉及一种电解质及其在铜互连制造过程中的应用。 具有大于6.0的pH的电解质包括铜离子,锰离子或锌离子,以及乙二胺与铜络合。退火后,涂覆的铜合金形成薄的阻挡层,使锰或锌迁移在绝缘电介质材料和铜之间的界面上迁移 。

著录项

  • 公开/公告号FR3112559A1

    专利类型

  • 公开/公告日2022-01-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AVENI;

    申请/专利号FR20200007534

  • 发明设计人 LOUIS CAILLARD;PAUL BLONDEAU;

    申请日2020-07-17

  • 分类号C25D3/58;H01L21/48;C25D7/04;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2024-06-14 22:42:33

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