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Method for forming a heterojunction bipolar transistor and a heterojunction bipolar transistor device

机译:形成异质结双极晶体管和异质结双极晶体管装置的方法

摘要

A method for forming a heterojunction bipolar transistor is provided. The method includes (a) forming a doped region in a group IV semiconductor layer of a substrate; (b) forming an epitaxially grown III-V semiconductor body on a surface portion of the doped region, the body extending from the surface portion and protruding vertically above the doped region, wherein the doped region and the body forms a first sub-collector part and a second sub-collector part, respectively; and (c) forming an epitaxially grown III-V semiconductor layer stack on the body, the layer stack comprising a collector, a base and an emitter. There is further provided a heterojunction bipolar transistor device.
机译:提供了一种用于形成异质结双极晶体管的方法。 该方法包括(a)在基板的第IV族半导体层中形成掺杂区域; (b)在掺杂区域的表面部分上形成外延生长的III-V半导体本体,主体从表面部分延伸并垂直地突出,其中掺杂区域和主体形成第一子收集器部件 分别是第二子收集器部分; (c)在主体上形成外延生长的III-V半导体层堆叠,该层叠层包括集电器,基座和发射器。 还提供了异质结双极晶体管装置。

著录项

  • 公开/公告号US11205716B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 IMEC VZW;

    申请/专利号US201916662671

  • 申请日2019-10-24

  • 分类号H01L29/737;H01L29/08;H01L29/10;H01L29/267;H01L29/66;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 22:55:35

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