首页> 外国专利> CMP CMP POLISHING PAD HAVING EDGE EXCLUSION REGION OF OFFSET CONCENTRIC GROOVE PATTERN

CMP CMP POLISHING PAD HAVING EDGE EXCLUSION REGION OF OFFSET CONCENTRIC GROOVE PATTERN

机译:CMP CMP抛光垫,具有偏移同心槽图案的边缘排除区域

摘要

The present invention provides a polishing pad and a method of using the polishing pad to chemically-mechanically polish a substrate. The polishing pad includes at least a grooved region and a non-grooved exclusion region adjacent a circumference of the polishing pad.
机译:本发明提供一种抛光垫和使用抛光垫以化学机械地抛光衬底的方法。 抛光垫包括至少一个沟槽区域和邻近抛光垫的圆周的非凹槽排斥区域。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号