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Crystal structure analysis system and crystal structure analysis method

机译:晶体结构分析系统和晶体结构分析方法

摘要

An electron diffraction apparatus measures an overall structure of a crystal of a specimen by electron diffraction. An NMR apparatus measures a local structure of the crystal by NMR measurement. An analysis apparatus combines the overall structure and the local structure to specify a structure of the crystal.
机译:电子衍射装置通过电子衍射测量样品晶体的整体结构。 NMR设备通过NMR测量测量晶体的局部结构。分析装置结合了整体结构和局部结构以指定晶体的结构。

著录项

  • 公开/公告号US10955366B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-03-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RIKEN;JEOL LTD.;

    申请/专利号US201916456166

  • 发明设计人 KOJI YONEKURA;YUSUKE NISHIYAMA;

    申请日2019-06-28

  • 分类号G01N23/20058;G01N24/08;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 17:50:49

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