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机译:在模型中研究电压的主电压光学方法中绘制等斜曲线轨迹的装置
公开/公告号SU42303A1
专利类型
公开/公告日1935-03-31
原文格式PDF
申请/专利权人 МИХАЙЛОВ А.Д.;
申请/专利号SU19340140632
发明设计人 МИХАЙЛОВ А.Д.;
申请日1934-01-16
分类号B43L11/00;
国家 SU
入库时间 2022-08-24 06:43:14
机译: 光学扫描设备的扫描轨迹的测量方法,扫描轨迹的测量设备以及图像校准方法
机译: 用于主扫描的进给方法和用于主扫描的进给设备,液滴输送设备,用于制造光电设备的方法,光电设备和电子仪器
机译: 光学扫描装置的扫描轨迹测量方法,扫描轨迹测量设备和图像校准方法