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机译:基于全反射原理的折光仪
公开/公告号US2445499A
专利类型
公开/公告日1948-07-20
原文格式PDF
申请/专利权人 MARTIN SILGE;
申请/专利号US19460676878
发明设计人 SILGE MARTIN;
申请日1946-06-15
分类号G01N21/43;
国家 US
入库时间 2022-08-24 02:34:48
机译: 采用全反射原理的折光仪
机译: 用于基于衰减全反射传感器原理的测试板
机译: 基于受阻全光内部反射原理的光学磁力计