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机译：基于受阻全光内部反射原理的光学磁力计
公开/公告号US3412324A
专利类型
公开/公告日1968-11-19
原文格式PDF
申请/专利权人 GENERAL ELECTRIC COMPANY;
申请/专利号US19660574762
发明设计人 JR. FREDERICK A. LUDEWIG;
申请日1966-08-24
分类号G01R15/24;G02F1/19;
国家 US
入库时间 2022-08-23 11:48:19
机译： 基于令人沮丧的全内反射和增强现实显示器和波导装置的衍射光学结构，并且具有相同的方法
机译： 基于完全内部反射和增强现实显示和波导管装置的FTIR衍射光学结构
机译： 基于FRUSTRATED INTERNATIONAL REFIR的BIOSENSOR系统及检测基于FTIR的BIOSENSOR信号的方法
