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机译:霍尔效应柯比诺半导体薄盘迁移率测量装置
公开/公告号FR1455391A
专利类型
公开/公告日1966-04-01
原文格式PDF
申请/专利权人 CENTRE NAT RECH SCIENT;CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE;
申请/专利号FR19650030256
发明设计人 VUILLOD JACQUES;VUILLOD JACQUES;
申请日1965-09-02
分类号H01L43/06;
国家 FR
入库时间 2022-08-23 14:48:55
机译: 半导体材料中电荷载体霍尔流动性的温度依赖性测量装置
机译: 用于测量半导体中电荷载流子霍尔运动的传感器
机译: 用于测量半导体薄膜测量装置的载流子迁移率的基板和测量方法