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BI-LAYER INSULATION STRUCTURE INCLUDING POLYCRYSTALLINE SEMICONDUCTOR MATERIAL FOR INTEGRATED CIRCUIT ISOLATION

机译:包含多层半导体绝缘材料的双层绝缘结构,用于集成电路隔离

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号US3519901A

    专利类型

  • 公开/公告日1970-07-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTRUMENTS INC.;

    申请/专利号USD3519901

  • 发明设计人 BILLY M. MARTIN;KENNETH E. BEAN;

    申请日1968-01-29

  • 分类号H01L11/00;H01L15/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-23 10:22:03

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