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exploratory electron microscope.

机译:探索电子显微镜。

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号NL7409907A

    专利类型

  • 公开/公告日1975-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NIHON DENSHI KABUSHIKI KAISHA TE TOKIO.;

    申请/专利号NL19740009907

  • 发明设计人

    申请日1974-07-23

  • 分类号H01J37/28;H01J37/02;

  • 国家 NL

  • 入库时间 2022-08-23 04:36:52

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