首页> 外国专利> A method for measuring of flaws in a circle annular loop, which is provided with a sealing compound closure zone on the bottom of a rotationally symmetrical cover

A method for measuring of flaws in a circle annular loop, which is provided with a sealing compound closure zone on the bottom of a rotationally symmetrical cover

机译:一种用于测量环形圈中缺陷的方法,该方法在旋转对称盖的底部设有密封剂封闭区域

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE2415592B2

    专利类型

  • 公开/公告日1976-10-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号DE19742415592

  • 发明设计人

    申请日1974-03-30

  • 分类号G01N21/32;G01M11/08;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 02:06:47

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号