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A method for measuring of flaws in a circle annular loop, which is provided with a sealing compound closure zone on the bottom of a rotationally symmetrical cover

机译:一种用于测量环形圈中缺陷的方法,该方法在旋转对称盖的底部设有密封剂封闭区域

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE2415592C3

    专利类型

  • 公开/公告日1979-06-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PHIELER THOMAS 2400 LUEBECK;

    申请/专利号DE19742415592

  • 发明设计人 SCHULTZ PETER;MARTINEN HINRICH;

    申请日1974-03-30

  • 分类号G01N21/32;G01M11/08;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 19:54:08

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