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机译:集成电路测试装置
公开/公告号SU646709A1
专利类型
公开/公告日1979-12-15
原文格式PDF
申请/专利权人 KUDRYAVTSEV A.E.SU;
申请/专利号SU19762385730
发明设计人 MIKHAJLOV N.V.SU;KUDRYAVTSEV A.E.SU;DOMENIKOV V.I.SU;
申请日1976-07-19
分类号H01R12/02;H01R13/66;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 17:55:13
机译: 用于执行半导体集成电路测试方法的半导体集成电路的测试方法,用于半导体集成电路的测试设备,标准电路板以及用于执行测试方法的直流系统继电器
机译: 由测试电路组装的集成电路,具有该测试电路和测试板的集成电路装置以及该集成电路的测试方法
机译: 用于测试集成电路的方法和设备,要测试的集成电路以及具有大量要测试的集成电路的晶片