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机译:低导介质的极谱分析方法
公开/公告号SU721734A1
专利类型
公开/公告日1980-03-15
原文格式PDF
申请/专利权人 ZHDANOV STEPAN SU;
申请/专利号SU19772549159
发明设计人 GINZBURG KIRA YASU;ZHDANOV STEPAN SU;PODIKOV VALERIJ VSU;
申请日1977-11-24
分类号G01N27/48;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 17:52:08
机译: 极谱分析系统和进行极谱分析的方法
机译: 进行程序分析的方法和装置,例如极谱或分光光度法