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device for mass analysis and structure analysis of a oppervlaklaag through ionenver - strooiing.

机译:通过离子轰击法对oppervlaklaag进行质量分析和结构分析的装置。

摘要

A device utilizing an energy analyzer having two coaxial cylindrical electrodes, a coaxial ring-shaped detector comprising a large number of individual detector elements to provide information on the atomic structure of the surface layer.
机译:一种利用能量分析仪的设备,该能量分析仪具有两个同轴的圆柱形电极,同轴的环形检测器,该检测器包括大量单独的检测器元件,以提供有关表层原子结构的信息。

著录项

  • 公开/公告号JPS5741066B2

    专利类型

  • 公开/公告日1982-09-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号JP19740144893

  • 发明设计人

    申请日1974-12-17

  • 分类号G01N23/227;G01N23/225;H01J37/244;H01J37/252;H01J43/24;H01J49/28;H01J49/44;H01J49/48;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 14:03:13

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