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Process for the anisotropic etching of III-V materials: use in surface treatment before epitaxial deposition

机译:III-V材料的各向异性刻蚀工艺:用于外延沉积之前的表面处理

摘要

This process consists in etching a III-V material (2) by a reactive ion etching employing a gas mixture containing, by volume:… - from 20 to 30% of at least one gaseous hydrocarbon,… - from 30 to 50% of at least one inert gas, and… - from 20 to 50% of hydrogen. …??This etching may be carried out locally with the aid of an etching mask (4a) made of Si3N4. …IMAGE…
机译:此过程包括使用以下气体混合物通过反应离子蚀刻对III-V材料(2)进行蚀刻,该气体混合物的体积百分比为:...-20至30%的至少一种气态烃,...-30至50%的气态烃至少一种惰性气体,以及--20至50%的氢。 ………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………都可以使用由Si 3 N 4制成的蚀刻掩模(4a)分别进行该蚀刻。 …<图像>…

著录项

  • 公开/公告号EP0292390A1

    专利类型

  • 公开/公告日1988-11-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HENRY LOIC;

    申请/专利号EP19880401214

  • 发明设计人 HENRY LOIC;

    申请日1988-05-19

  • 分类号H01L21/306;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 06:35:21

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