该工艺包括以下步骤:使用含有以下成分的气体混合物,通过反应性离子刻蚀来刻蚀III-V材料(2)。至少20%(体积)的至少一种气态烃,30%至50%的至少一种惰性气体和20%至50%的氢气。所述蚀刻可以在Si的帮助下局部进行。 sub.3 N.sub.4蚀刻掩模(4a)。
公开/公告号US5074955A
专利类型
公开/公告日1991-12-24
原文格式PDF
申请/专利号US19900568871
申请日1990-08-17
分类号H01L21/00;
国家 US
入库时间 2022-08-22 05:23:35