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Method of manufacturing amorphous-silicon thin-film transistors

机译:制造非晶硅薄膜晶体管的方法

摘要

A method for manufacturing an amorphous silicon thin film transistor in which a gate insulating layer is provided over a gate on a substrate. An amorphous silicon layer is formed on the gate insulating layer, and a protective insulating layer is formed on the amorphous silicon layer. A pattern conforming to the gate is applied to the protective layer, and the amorphous layer is exposed in regions outside of the pattern. A doped silicon layer is then added, and source and drain electrodes formed to partly overlap the remaining protective insulating layer.
机译:一种制造非晶硅薄膜晶体管的方法,其中在衬底上的栅极上方提供栅极绝缘层。在栅极绝缘层上形成非晶硅层,并且在非晶硅层上形成保护绝缘层。将与栅极一致的图案施加到保护层,并且非晶层在图案外部的区域中暴露。然后添加掺杂的硅层,并且形成为与剩余的保护绝缘层部分重叠的源电极和漏电极。

著录项

  • 公开/公告号US5091337A

    专利类型

  • 公开/公告日1992-02-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SEIKOSHA CO. LTD.;

    申请/专利号US19900609127

  • 发明设计人 YOSHIAKI WATANABE;SAKAE TANAKA;

    申请日1990-11-01

  • 分类号H01L21/44;H01L21/265;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 05:23:19

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