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Schottky barrier diodes and Schottky barrier diode-clamped transistors and method of fabrication

机译:肖特基势垒二极管和钳位肖特基势垒二极管的晶体管及其制造方法

摘要

A Schottky diode is formed with a layer of intrinsic polysilicon separating a metal silicide layer from an n conductivity type active region. This structure avoids the necessity for a process step which opens a window in the intrinsic polysilicon layer and reduces the portion of surface area needed for formation of a Schottky diode, compared to previous devices. The Schottky diode can be formed as part of an overall process for forming an integrated circuit and can be positioned in parallel across the collector/base junction of a bipolar transistor to form a Schottky barrier diode-clamped transistor.
机译:肖特基二极管由本征多晶硅层形成,该本征多晶硅层将金属硅化物层与n导电类型的有源区分开。与先前的器件相比,该结构避免了需要在本征多晶硅层中打开窗口并减小形成肖特基二极管所需的表面积的一部分的处理步骤的需要。肖特基二极管可以形成为用于形成集成电路的整个过程的一部分,并且可以在双极晶体管的集电极/基极结之间并联放置,以形成肖特基势垒二极管钳位的晶体管。

著录项

  • 公开/公告号US5109256A

    专利类型

  • 公开/公告日1992-04-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NATIONAL SEMICONDUCTOR CORPORATION;

    申请/专利号US19900569789

  • 发明设计人 BANCHERD DE LONG;

    申请日1990-08-17

  • 分类号H01L29/48;H01L29/56;H01L29/72;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 05:22:58

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