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Methods and layers for calibrating a thickness measuring device, a tape, a device for measuring or monitoring the thickness of the foil, etc.

机译:用于校准厚度测量装置,胶带,用于测量或监测箔厚度的装置的方法和层,等等。

摘要

A process for calibrating a thickness tester with preferably two travel measuring sensors (2, 3) operating with or without contact is proposed in which thickness testers operating on various measuring principles can be easily calibrated, where the measurement must be performed, by means of a reference object (7).
机译:提出了一种用于校准厚度测试仪的方法,该方法优选具有两个接触或不接触地运行的行程测量传感器(2、3),其中可以容易地校准以各种测量原理运行的厚度测试仪,其中必须借助参考对象(7)。

著录项

  • 公开/公告号JPH05505029A

    专利类型

  • 公开/公告日1993-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号JP19910506276

  • 发明设计人

    申请日1991-04-05

  • 分类号G01B7/00;G01B7/06;G01B11/06;G01B21/08;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 05:21:20

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