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Method of calibrating a thickness measuring device and device for measuring or monitoring the thickness of layers, tapes, foils, and the like

机译:校准厚度测量装置的方法以及用于测量或监视层,带,箔等的厚度的装置

摘要

A method of calibrating a thickness measuring device having preferably two noncontacting or scanning displacement measuring sensors (2, 3), which allows to calibrate in a simple manner, at the location of measurement, thickness measuring devices operating by different measuring principles by means of a reference object (7).
机译:一种校准厚度测量装置的方法,该厚度测量装置优选地具有两个非接触或扫描位移测量传感器(2、3),该方法允许在测量位置以简单的方式校准通过不同的测量原理操作的厚度测量装置。参考对象(7)。

著录项

  • 公开/公告号US5485082A

    专利类型

  • 公开/公告日1996-01-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRO-EPSILON MESSTECHNIK GMBH & CO. KG;

    申请/专利号US19920934526

  • 发明设计人 KARL WISSPEINTNER;ROLAND MANDL;

    申请日1992-12-10

  • 分类号G01R35/00;G01B21/08;G01B7/06;G01B11/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 03:39:10

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