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Charge skimming and variable integration time in focal plane arrays

机译:焦平面阵列中的电荷撇除和可变积分时间

摘要

Methods and apparatus for implementing charge skimming and variable integration time in focal plane arrays (10) formed in a silicon substrate (12). The present invention provides for pulsing a field plate (17) that lies over a diode (18) disposed in the substrate (12) in order to provide for charge skimming and variable integration time. The field plate (17) is normally dc biased to suppress diode edge leakage. No additional structure is needed in the silicon substrate (12), and basic readout clocking is unaffected. Any interline transfer focal plane array (10) can benefit from using the principles of the present invention.
机译:用于在硅衬底(12)中形成的焦平面阵列(10)中实现电荷撇除和可变积分时间的方法和装置。本发明提供了脉冲场板(17)的脉冲,该场板位于设置在衬底(12)中的二极管(18)上,以便提供电荷掠过和可变的积分时间。场板(17)通常采用直流偏置,以抑制二极管边缘泄漏。在硅衬底(12)中不需要附加的结构,并且基本的读出时钟不受影响。任何行间转移焦平面阵列(10)都可以受益于使用本发明的原理。

著录项

  • 公开/公告号EP0572137A1

    专利类型

  • 公开/公告日1993-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LORAL FAIRCHILD CORPORATION;

    申请/专利号EP19930303658

  • 发明设计人 MCNUTT MICHAEL J.;

    申请日1993-05-12

  • 分类号H01L27/148;H04N3/15;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 04:40:20

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