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一种红外焦平面阵列变积分时间下的自适应校正方法

摘要

一种红外焦平面阵列变积分时间下的自适应校正方法,首先设置不同的红外焦平面阵列的积分时间,用两点温度定标法计算探测单元采集到的平均图像数据输出;求得每个有效像元点在不同积分时间条件下所对应的增益定标系数和偏置定标系数;然后绘制每个有效像元点的增益定标系数和偏置定标系数分别随积分时间变化的折线图;使用最小二乘法拟合得到每段积分时间区间的增益拟合系数和偏置拟合系数;最后计算偏置校正系数和增益校正系数,对红外焦平面阵列获得的图像进行校正,本发明由于校正系数与积分时间是一一对应,分离出积分时间的变化对焦平面阵列均匀性的影响。不仅使红外图像的均匀性得到较大幅度提高,而且修改积分时间图像均匀性不受影响。

著录项

  • 公开/公告号CN105136308B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-05-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京空间机电研究所;

    申请/专利号CN201510272545.2

  • 申请日2015-05-25

  • 分类号

  • 代理机构中国航天科技专利中心;

  • 代理人臧春喜

  • 地址 100076 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱

  • 入库时间 2022-08-23 10:10:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-01

    授权

    授权

  • 2016-01-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/00 申请日:20150525

    实质审查的生效

  • 2015-12-09

    公开

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