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Process for the rapid thermal annealing of a semiconductor wafer using irradiation

机译:使用辐射对半导体晶片进行快速热退火的方法

摘要

The process for the rapid thermal annealing of a semiconductor wafer (1) using irradiation with electromagnetic radiation provides for transferring most of the energy needed to heat the semiconductor wafer (1) by irradiating the semiconductor wafer (1) with electromagnetic radiation at least on one side from a main irradiation arrangement (62), the intensities (IM, IR) of the radiation aimed at the central region (6) and that aimed at the peripheral region (5) being equal. So that the temperatures in the central region (6) and in the peripheral region (5) of the semiconductor wafer (1) are equal in order to increase the efficiency during the entire annealing process, an electromagnetic radiation is additionally aimed at the peripheral region (5) of the semiconductor wafer to compensate for the thermal radiation occurring to an increased extent in the peripheral region (5) of the semiconductor wafer (1). …??The process serves to improve rapid thermal annealing processes in producing integrated semiconductor circuits. …IMAGE…
机译:使用电磁辐射辐照对半导体晶片(1)进行快速热退火的方法提供了通过将电磁辐射至少照射在一个晶片(1)上来转移加热半导体晶片(1)所需的大部分能量。在主辐射装置(62)的一侧,瞄准中心区域(6)的辐射强度(IM,IR)和瞄准外围区域(5)的辐射强度相等。为了在整个退火过程中提高效率,为了使半导体晶片(1)的中心区域(6)和外围区域(5)中的温度相等,另外将电磁辐射对准外围区域。半导体晶片(5)以补偿在半导体晶片(1)的外围区域(5)中增加地发生的热辐射。 ………该方法用于改善生产集成半导体电路中的快速热退火工艺。 …<图像>…

著录项

  • 公开/公告号EP0345443B1

    专利类型

  • 公开/公告日1995-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;

    申请/专利号EP19890106877

  • 发明设计人 KAKOSCHKE RONALD DR.;

    申请日1989-04-17

  • 分类号H01L21/268;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 04:14:03

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