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METHOD OF DETERMINING OPTICAL AND GEOMETRICAL PARAMETERS OF THIN LAYERS DEPOSITED ON PLANO-PARALLEL SUBSTRATES AND SUCH SUBSTRATES THEMSELVES

机译：测定沉积在平行平面基质及其本身上的薄层的光学和几何参数的方法

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公开/公告号PL306614A1

专利类型
公开/公告日1996-07-08

原文格式PDF
申请/专利权人 POLITECHNIKA SLASKA;
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申请/专利号PL19940306614
发明设计人 NOWAK MARIAN ANTONI;JAGLARZ JANUSZ;
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申请日1994-12-28
分类号G01J1/30;G01J3/45;
国家 PL
入库时间 2022-08-22 03:52:56

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