首页> 外国专利> the procedure to achieve a ohmsk contact and semiconductor device equipped with such ohmsk contact

the procedure to achieve a ohmsk contact and semiconductor device equipped with such ohmsk contact

机译:实现ohmsk接触的过程以及配备有ohmsk接触的半导体器件

摘要

In a method of producing an ohmic contact (5) to a p-type alpha -SiC layer (3b) in a semiconductor device (1), layers of aluminium, titanium and silicon are deposited on said alpha -SiC layer (3b), and said deposited layers (5) are annealed to convert at least part of said deposited layers (5) to aluminium-titanium-silicide.
机译:在半导体装置(1)中的p型α-SiC层(3b)上形成欧姆接触(5)的方法中,铝,钛和硅层沉积在所述α-SiC层(3b)上,将所述沉积层(5)退火以将至少一部分所述沉积层(5)转化为铝钛硅化物。

著录项

  • 公开/公告号SE9500152L

    专利类型

  • 公开/公告日1996-07-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ERICSSON TELEFON AB L M;

    申请/专利号SE19950000152

  • 发明设计人 KRONLUND BERTIL;

    申请日1995-01-18

  • 分类号H01L21/283;H01L29/45;

  • 国家 SE

  • 入库时间 2022-08-22 03:52:28

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号