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Planarized material layer deposition using condensed-phase processing

机译:使用冷凝相处理的平面材料层沉积

摘要

A method and system form a globally planar material layer (44) on a semiconductor wafer (32). The method and system consist of a chuck (58) and a chiller (56) to cool down semiconductor wafer (32) to a predetermined temperature in order to condense multiple liquid film layers (38, 40, 42) to produce a globally planar material layer (44) from a suitable condensable process vapor. At least one process energy source (72 and 74) reactively solidifies the liquid films on the semiconductor wafer (32) and may include a remote plasma source, a radio-frequency plasma source, or a photon source. The steps and apparatus for condensing and solidifying the material layer form a progressive globally planar layer on the semiconductor wafer surface.
机译:一种方法和系统在半导体晶片(32)上形成整体平面的材料层(44)。该方法和系统由卡盘(58)和冷却器(56)组成,以将半导体晶片(32)冷却至预定温度,以便冷凝多个液膜层(38、40、42)以产生整体平面的材料。层(44)由合适的可冷凝工艺蒸气形成。至少一个处理能源(72和74)反应性地固化半导体晶片(32)上的液膜,并且可以包括远程等离子体源,射频等离子体源或光子源。用于冷凝和固化材料层的步骤和设备在半导体晶片表面上形成渐进的整体平面层。

著录项

  • 公开/公告号US5504040A

    专利类型

  • 公开/公告日1996-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED;

    申请/专利号US19920906981

  • 发明设计人 MEHRDAD M. MOSLEHI;

    申请日1992-06-30

  • 分类号H01L21/268;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 03:38:48

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