1 Sub>和P 2 Sub> / Sub>,并且在第二和第三直线L 2 Sub>和L 3 Sub>之间,在测量对象1的对象表面2上,并提供已知标记3第一直线L 1 Sub>和第二直线L 2 Sub>形成的角度α,第二直线L 2和第三直线L 2 Sub>形成的角度β Sub>和L 3 Sub>以及P 1 Sub>和P 2 Sub>之间的距离g,标记3至少在一个一维上成像光电传感器6。当从初级光电传感器6输出包含沿长度方向的光强度分布的传感器信号时,计算单元9计算直线L 1 Sub> -L 3的位置。基于传感器信号的主光电传感器6上的标记图像3'。并且,基于计算结果,两个交点P 1 Sub>和P 2 Sub>中的至少一个的位置和直线L中的至少一个的倾斜度计算 1 Sub> -L 3 Sub>。例如,将计算结果作为被测量物1的位置测量的基准点和姿势测量的基准线。COPYRIGHT:(C)1997,JPO
公开/公告号JPH09170908A
专利类型
公开/公告日1997-06-30
原文格式PDF
申请/专利权人 FUJI XEROX CO LTD;
申请/专利号JP19960075717
申请日1996-03-29
分类号G01B11/00;B25J13/08;G01B11/26;G06T7/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 03:33:14