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PROCESS FOR ELECTROCHEMICAL SOLVING SEMICONDUCTIVE MATERIALS AND PROCESS FOR MEASURING PARAMETERS OF SEMICONDUCTIVE MATERIALS DEPENDENT ON DEPTH AS A FUNCTION OF DEPTH BY ELECTROCHEMICAL SOLVING OF SEMICONDUCTIVE MATERIALS

机译：电化学解决半导电材料的过程以及测量取决于深度的半导电材料参数的方法，通过电化学解决半导电材料的深度

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公开/公告号HU213196B

专利类型
公开/公告日1997-03-28

原文格式PDF
申请/专利权人 SEMILAB FELVEZETOE FIZIKAI LABORATORIUM RT.;
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申请/专利号HU19900004176
发明设计人 HORANYITAMAS;ENDREDIGABOR;TUETTOEPETER;
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申请日1990-07-12
分类号C25F3/12;G01N27/26;
国家 HU
入库时间 2022-08-22 03:26:57

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