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Fabrication of vertical SiGe base HBT with lateral collector contact on thin SOI

机译:在薄SOI上制造具有横向集电极接触的垂直SiGe基HBT

摘要

A SiGe-HBT structure for device integration on thin-SOI substrates is disclosed. The emitter and base regions are vertical while the collector contact is lateral in the otherwise MOS-like device structure. This allows one to integrate a SiGe base, the device capacitances are reduced, and the transistor can be combined with fully- depleted CMOS in a SOI- BiCMOS technology.
机译:公开了一种用于在薄SOI衬底上集成器件的SiGe-HBT结构。在其他类似MOS的器件结构中,发射极和基极区域是垂直的,而集电极接触是横向的。这样一来,人们就可以集成一个SiGe基极,减小器件电容,并且可以在SOI-BiCMOS技术中将晶体管与完全耗尽的CMOS结合在一起。

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