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Microelectronic structure including a conductive exotic-nitride barrier layer for high-dielectric-constant material electrodes and method of fabricating the same

机译:包括用于高介电常数材料电极的导电异质氮化物阻挡层的微电子结构及其制造方法

摘要

A preferred embodiment of this invention comprises an oxidizable layer (e.g. TiN 50), a conductive exotic-nitride barrier layer (e.g. Ti-Al-N 34) overlying the oxidizable layer, an oxygen stable layer (e.g. platinum 36) overlying the exotic-nitride layer, and a high-dielectric-constant material layer (e.g. barium strontium titanate 38) overlying the oxygen stable layer. The exotic-nitride barrier layer substantially inhibits diffusion of oxygen to the oxidizable layer, thus minimizing deleterious oxidation of the oxidizable layer.
机译:本发明的优选实施例包括可氧化层(例如,TiN 50),覆盖可氧化层的导电异族氮化物阻挡层(例如,Ti-Al-N 34),氧稳定层(例如,铂36),其覆盖在异质层上。氮化物层和覆盖氧稳定层的高介电常数材料层(例如钛酸锶钡38)。异质氮化物阻挡层基本上抑制了氧向可氧化层的扩散,从而使可氧化层的有害氧化最小化。

著录项

  • 公开/公告号EP0697719A3

    专利类型

  • 公开/公告日1997-12-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED;

    申请/专利号EP19950111973

  • 发明设计人 SUMMERFELT SCOTT R.;

    申请日1995-07-28

  • 分类号H01L21/3205;H01L29/92;H01G4/008;H01G4/08;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 02:51:07

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