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机译:一种用于检测电离辐射的设备,一种半导电的高电阻率
公开/公告号FR2757685B1
专利类型
公开/公告日1999-05-14
原文格式PDF
申请/专利权人 COMMISSARIAT A LENERGIE ATOMIQUE;
申请/专利号FR19960015940
发明设计人 ROSAZ MURALI;SANCHEZ GERARD;RUSTIQUE JACQUES;VERGER LOICK;
申请日1996-12-24
分类号H01L31/115;
国家 FR
入库时间 2022-08-22 02:10:37
机译: 高电阻率半导体电离辐射检测装置
机译: 高电阻半导体电离辐射检测装置
机译: 使用高电阻率半导体的电离放射线检测装置