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METHOD OF MANUFACTURING OF SEMICONDUCTOR DEVICE WITH DEVELOPMENT PROCESS A USING WET SOLUTION

机译:利用湿法开发具有开发过程的半导体器件的方法

摘要

PURPOSE: A manufacturing method is provided to improve a uniformity of development and a linearity of photoresist pattern by moving a nozzle contain with a solution of development on a wafer. CONSTITUTION: The manufacturing method comprises the steps: forming a photoresist pattern on a wafer (4); exposing of the photoresist pattern; developing of the photoresist pattern using a nozzle (7) contain with development solution; and moving the nozzle (7) into the center. Thereby, it is possible to improve the uniformity and linearity of photoresist pattern in the development process.
机译:目的:提供一种制造方法,以通过在晶片上移动带有显影溶液的喷嘴容器来提高显影的均匀性和光致抗蚀剂图案的线性。组成:该制造方法包括以下步骤:在晶片(4)上形成光刻胶图案;曝光光致抗蚀剂图案;使用包含显影液的喷嘴(7)对光致抗蚀剂图案进行显影;然后将喷嘴(7)移到中间。因此,可以在显影过程中改善光致抗蚀剂图案的均匀性和线性。

著录项

  • 公开/公告号KR20000017439A

    专利类型

  • 公开/公告日2000-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORPORATION;

    申请/专利号KR19990034797

  • 发明设计人 NOMURA YOICHI;

    申请日1999-08-21

  • 分类号H01L21/027;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 01:46:03

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