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METHOD FOR DOPING IMPURITY TO POLY CRYSTALLINE SILICONE FILM

机译:掺杂多晶硅薄膜的杂质的方法

摘要

PURPOSE: A method for doping an impurity to a poly crystalline silicone film is to equally maintain a sheet resistance of the poly crystalline silicone, thereby optimally maintaining a conductivity of a wire. CONSTITUTION: A method for doping an impurity to a poly crystalline silicone film comprises a step of supplying a phosphine gas as a source gas of phosphorus in a vertical furnace type equipment of which a chamber is maintained at a temperature of about 800 deg. C, and implanting n type impurity into a poly crystalline silicone film. In the method, the chamber is formed of a single or double quartz tube(20,30). The temperature in the chamber is maintained in an extent of 700 to 1000 deg. C. A pressure in the chamber is maintained in an extent of 100 to 3000 m Torr.
机译:目的:将杂质掺杂到多晶硅膜中的方法是均等地保持多晶硅的薄层电阻,从而最佳地保持电线的导电性。构成:一种将杂质掺杂到多晶硅薄膜中的方法,包括以下步骤:在保持腔室温度约800度的立式炉型设备中提供磷化氢气体作为磷的源气。 C,并将n型杂质注入多晶硅膜中。在该方法中,腔室由单石英管或双石英管(20,30)形成。腔室内的温度保持在700至1000度的范围内。腔室内的压力保持在100至3000 m Torr。

著录项

  • 公开/公告号KR20000059833A

    专利类型

  • 公开/公告日2000-10-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD.;

    申请/专利号KR19990007712

  • 发明设计人 LEE DONG GEUN;LIM HEON HYEONG;

    申请日1999-03-09

  • 分类号H01L21/22;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 01:45:16

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