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Plasma unit for controlling etching, sputtering off or structuring surfaces and/or generating of surface coatings; controls plasma intensity within given time over substrate and varies substrate voltage over given time

机译:等离子单元,用于控制蚀刻,溅射或结构化表面和/或生成表面涂层;在给定时间内控制衬底上的等离子体强度,并在给定时间内改变衬底电压

摘要

At least one plasma source (10) and at least one substrate (11) are in a vacuum chamber (13). The source (10) produces plasma (16) interacting with the substrate (11) to which a corresponding voltage is applied. First devices are provided, which control plasma intensity varying over a given time on the substrate (11). Second devices are provided which vary the substrate voltage over a given time.
机译:至少一个等离子体源(10)和至少一个基板(11)在真空室(13)中。源(10)产生等离子体(16),等离子体(16)与被施加相应电压的基板(11)相互作用。提供第一装置,其控制在给定时间内在基板(11)上的等离子体强度变化。提供第二装置,其在给定时间内改变衬底电压。

著录项

  • 公开/公告号DE19911046A1

    专利类型

  • 公开/公告日2000-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ROBERT BOSCH GMBH;

    申请/专利号DE1999111046

  • 发明设计人 VOIGT JOHANNES;WEBER THOMAS;

    申请日1999-03-12

  • 分类号H01J37/32;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 01:42:16

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