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Waveform generator for producing arbitrary waveforms used in testing semiconductor devices uses an input terminal coupled to a delay unit, a processor and a composition unit

机译:用于产生在测试半导体器件中使用的任意波形的波形发生器使用耦合到延迟单元,处理器和合成单元的输入端子

摘要

The waveform generator consists of an input terminal (28) coupled to a delay unit (23), a processing unit (25) and a composing unit (21). The delay unit uses a set of delay elements (30-314) to delay propagation of the input signal from the terminal to the processor. The delayed signal is then processed using programmable elements (40b-415b) to produce an output signal. The composing unit then composes these output signals to generate a waveform. An Independent claim is included for a semiconductor testing device.
机译:波形发生器包括耦合到延迟单元(23)的输入端子(28),处理单元(25)和合成单元(21)。延迟单元使用一组延迟元件(30-314)来延迟输入信号从终端到处理器的传播。然后使用可编程元件(40b-415b)处理延迟的信号,以产生输出信号。然后,合成单元合成这些输出信号以生成波形。半导体测试设备包括独立索赔。

著录项

  • 公开/公告号DE19944911A1

    专利类型

  • 公开/公告日2000-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ADVANTEST CORP. TOKIO/TOKYO;

    申请/专利号DE1999144911

  • 发明设计人 YASUO FURUKAWA;

    申请日1999-09-10

  • 分类号G01R31/3183;G01R31/28;G06F1/02;H03K3/80;H03K3/78;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 01:42:01

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