机译:用于产生在测试半导体器件中使用的任意波形的波形发生器使用耦合到延迟单元,处理器和合成单元的输入端子
公开/公告号DE19944911A1
专利类型
公开/公告日2000-04-13
原文格式PDF
申请/专利权人 ADVANTEST CORP. TOKIO/TOKYO;
申请/专利号DE1999144911
发明设计人 YASUO FURUKAWA;
申请日1999-09-10
分类号G01R31/3183;G01R31/28;G06F1/02;H03K3/80;H03K3/78;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 01:42:01