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A process for testing integrated circuits arranged on a carrier, supports with this type of integrated circuits as well as an integrated circuit and a test arrangement for carrying out the method

机译：用于测试布置在载体上的集成电路的方法，具有这种类型的集成电路的支撑以及用于执行该方法的集成电路和测试装置

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公开/公告号DE3627638C2

专利类型
公开/公告日2000-04-06

原文格式PDF
申请/专利权人 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. EINDHOVEN NL;
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申请/专利号DE19863627638
发明设计人 SAUERWALD WILHELM ALBERT EINDHOVEN NL;WILDE JOHANNES DE EINDHOVEN NL;EERDEWIJK KAREL JOHANNES ENGELBERTUS VAN EINDHOVEN NL;SEGERS MARINUS THEODORUS MARIA EINDHOVEN NL;BEENKER FRANCISCUS PETRUS MARIA EINDHOVEN NL;
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申请日1986-08-14
分类号G01R31/28;G11C29/00;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 01:41:07

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