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Static Random Access Memory Resistant to Soft Errors

机译:耐软错误的静态随机存取存储器

摘要

Static random access memory 30, which is resistant to soft errors from alpha particle emissions, has a high density memory cell array 44 coupled to word lines 73 and 74 and bit line pairs 68, and has a low power supply voltage ( About 3.3 volts). The charging circuit 55 boosts the power supply voltage to the memory array above the power supply voltage. The charging circuit 55 includes an oscillator 57, a charge pump 56, and a voltage regulator 58. The boosted supply voltage reduces the effect of alpha particles on the memory array 44 at low power supply voltages. Providing a boosted supply voltage to the memory array 44 increases soft error immunity without the addition of capacitance to each of the memory cells 52 and 54.
机译:静态随机存取存储器30具有抵抗α粒子发射引起的软错误的能力,其具有耦合至字线73和74以及位线对68的高密度存储单元阵列44,并且具有低电源电压(约3.3伏)。 。充电电路55将到存储器阵列的电源电压升高到电源电压以上。充电电路55包括振荡器57,电荷泵56和电压调节器58。升高的电源电压在低电源电压下减小了α粒子对存储器阵列44的影响。向存储器阵列44提供升高的电源电压可增加软错误抗扰性,而无需向每个存储器单元52和5​​4增加电容。

著录项

  • 公开/公告号KR100281152B1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-03-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 모토로라 인코포레이티드;

    申请/专利号KR19930021172

  • 发明设计人 페리에이치.펠리3세;

    申请日1993-10-13

  • 分类号G11C11/413;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 01:12:34

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