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Shallow trench isolation on a silicon substrate using nitrogen implant into the side wall

机译:使用氮注入侧壁在硅衬底上进行浅沟槽隔离

摘要

A process for fabricating a tapered trench on a silicon substrate. The process comprises the steps of forming an initial trench in the substrate and implanting nitrogen ions on the initial trench side walls. More nitrogen ions are implanted adjacent the exposed surface of the substrate than adjacent the trench bottom. Finally, the initial trench side walls are oxidized to create the tapered shape.
机译:在硅衬底上制造锥形沟槽的工艺。该工艺包括以下步骤:在衬底中形成初始沟槽,并在初始沟槽侧壁上注入氮离子。与邻近沟槽底部相邻,更多的氮离子被注入到衬底的裸露表面附近。最后,最初的沟槽侧壁被氧化以形成锥形。

著录项

  • 公开/公告号US6437400B2

    专利类型

  • 公开/公告日2002-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION;

    申请/专利号US20010837136

  • 发明设计人 LEOBANDUNG EFFENDI;

    申请日2001-04-18

  • 分类号H01L29/76;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:49:16

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