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Electrostatic discharge (ESD) protection circuit of silicon-controlled rectifier (SCR) structure operable at a low trigger voltage

机译:可在低触发电压下工作的可控硅(SCR)结构的静电放电(ESD)保护电路

摘要

An ESD protection circuit having silicon-controlled rectifier structure, includes a PNP transistor and an NPN transistor. A switch circuit is connected between a ground voltage terminal and a well region that is a base of the PNP transistor. The switch circuit is formed of plural diode-coupled MOS transistors, so that a trigger voltage of the SCR is determined by threshold voltages of the MOS transistors.
机译:具有硅可控整流器结构的ESD保护电路,包括PNP晶体管和NPN晶体管。开关电路连接在接地电压端子和作为PNP晶体管基极的阱区域之间。开关电路由多个二极管耦合的MOS晶体管形成,从而SCR的触发电压由MOS晶体管的阈值电压确定。

著录项

  • 公开/公告号US2003016479A1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-01-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SONG KI-WHAN;

    申请/专利号US20020146046

  • 发明设计人 KI-WHAN SONG;

    申请日2002-05-16

  • 分类号H02H9/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:09:03

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