机译:测量物体弯曲表面的曲率半径,从而在物体表面的同一点进行两次光学测量,但传感器与表面的距离不同
公开/公告号DE10160221A1
专利类型
公开/公告日2003-06-26
原文格式PDF
申请/专利权人 BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND VERTRETEN DURCH DAS BUNDESMINISTERIUM FUER WIRTSCHAFT UND TECHNOLOGIE;
申请/专利号DE2001160221
申请日2001-12-07
分类号G01B21/20;G01B11/255;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 23:42:28