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机译:X射线微衍射测定方法及X射线微衍射装置
公开/公告号GB2343825B
专利类型
公开/公告日2003-05-14
原文格式PDF
申请/专利权人 * RIGAKU CORPORATION;
申请/专利号GB19990025325
发明设计人 AKIHIDE * DOSHO;
申请日1999-10-26
分类号G01N23/207;
国家 GB
入库时间 2022-08-21 23:36:49
机译: X射线微衍射测定方法及X射线微衍射装置
机译: X射线微衍射仪,包括围绕样品的圆柱体