要解决的问题:提供一种小型化,高速,低成本的光学设备,并提供样品安装组件,发光位置控制器,分析系统,人员整理方法以及过敏和副作用检查方法。
解决方案:当从光源201a发射的光被引导到y方向时,该光的偏振态由调制部分201d使用液晶进行调制,从而在y的指定位置发射。方向,被引导至x方向的光由调制部202使用液晶进行调制,以在x方向的规定位置出射,在检体载置部204上的规定位置的检体被检出。用光检测器206检测来自标本的信号光。
版权所有:(C)2004,JPO
公开/公告号JP2003322610A
专利类型
公开/公告日2003-11-14
原文格式PDF
申请/专利权人 OMRON CORP;
申请/专利号JP20020128552
申请日2002-04-30
分类号G01N21/01;A61B5/117;C12M1/00;C12Q1/68;G01N21/64;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 23:27:55