首页> 外国专利> Electrical print resolution test die

Electrical print resolution test die

机译:电气印刷分辨率测试仪

摘要

A test structure pattern includes a first comb, a second comb, and a serpentine line. The first comb includes a first set of tines of the same orientation. The second comb includes a second set of tines of the same orientation that are interdigitated with the first set of tines. The serpentine line runs between the interdigitated tines of the first metal comb and the second metal comb. The test structure pattern forms a first metal comb, a second metal comb, and a serpentine metal line on a die. Print quality and resolution is tested by checking for electrical continuity in the serpentine metal line and bridging between the serpentine metal line and one of the first metal comb and the second metal comb.
机译:测试结构图案包括第一梳子,第二梳子和蛇形线。第一梳子包括相同方向的第一组齿。第二梳子包括与第一组齿叉指叉的相同方向的第二组齿叉。蛇形线在第一金属梳和第二金属梳的叉齿之间延伸。测试结构图案在管芯上形成第一金属梳,第二金属梳和蛇形金属线。通过检查蛇形金属线中的电连续性以及在蛇形金属线与第一金属梳和第二金属梳中的一个之间的桥接,来测试打印质量和分辨率。

著录项

  • 公开/公告号US6762434B2

    专利类型

  • 公开/公告日2004-07-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICREL INC.;

    申请/专利号US20030422165

  • 发明设计人 ROBERT W. RUMSEY;HIU F IP;ARTHUR LAM;

    申请日2003-04-23

  • 分类号H01L235/80;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 23:19:01

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号