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tiefgraben dram process on soi for dram cell low leckstromes

机译:在SOI上使用tiefgraben dram工艺处理dram细胞低leckstrom

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号AT268945T

    专利类型

  • 公开/公告日2004-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号AT19950114657T

  • 发明设计人 ALSMEIER JOHANN;STENGL REINHARD JOHANNES;

    申请日1995-09-18

  • 分类号H01L27/108;H01L21/82;H01L21/8242;H01L27/12;

  • 国家 AT

  • 入库时间 2022-08-21 23:06:33

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