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tiefgraben dram process on soi for dram cell low leckstromes

机译:在SOI上使用tiefgraben dram工艺处理dram细胞低leckstrom

摘要

A deep trench DRAM cell is formed on a silicon on isolator (SOI) substrate, with a buried strap formed by outdiffusion of dopant in associated trench node material, for providing an electrical connection between the trench node and the active area of a MOS transfer gate formed in the substrate adjacent the trench in an uppermost portion of the substrate. IMAGE
机译:在隔离层上的硅(SOI)衬底上形成深沟槽DRAM单元,并通过在相关的沟槽节点材料中扩散掺杂剂而形成掩埋带,以提供沟槽节点与MOS传输栅极的有源区之间的电连接在衬底的最上部中与沟槽相邻的衬底中形成衬底。 <图像>

著录项

  • 公开/公告号DE69533121D1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-07-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号DE19956033121T

  • 发明设计人 ALSMEIER JOHANN;STENGL REINHARD JOHANNES;

    申请日1995-09-18

  • 分类号H01L27/108;H01L21/82;H01L21/8242;H01L27/12;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 22:41:06

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